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我国霸占半导体资料世界难题

  据科技日报,在芯片制作中,不一样的资料层间的“岛状”衔接结构长时间阻止热量传递,成为器材功能提高的要害瓶颈。

  近来,西安电子科技大学郝跃院士、张进成教授团队经过立异技能,成功将粗糙的“岛状”界面转变为原子级平坦的“薄膜”,使芯片散热功率和器材功能取得突破性提高。这项为半导体资料高质量集成供给“我国范式”的突破性作用,已宣布在《天然·通讯》与《科学发展》上。

  “传统半导体芯片的晶体成核层外表高低不平,极度影响散热作用。”西安电子科技大学副校长、教授张进成介绍,“热量散不出去会构成‘热堵点’,严峻时导致芯片功能直线下降乃至器材损坏。”这样的一个问题自2014年相关成核技能取得诺贝尔奖以来,一向未能彻底处理,成为射频芯片功率提高的最大瓶颈。

  团队创始“离子注入诱导成核”技能,将本来随机的成长进程转为精准可控的均匀成长。试验显现,新结构界面热阻仅为传统的三分之一。

  根据该技能制备的氮化镓微波功率器材,在X波段和Ka波段输出功率密度别离达42瓦/毫米和20瓦/毫米,将世界纪录提高30%—40%。这在某种程度上预示着相同芯片面积下,配备勘探间隔可明显地添加,通讯基站也能掩盖更远、更节能。